Zobrazeno 1 - 10
of 205
pro vyhledávání: '"Ning, T.H."'
Publikováno v:
2007 IEEE International Electron Devices Meeting; 2007, p907-910, 4p
Autor:
Tianhing Chen, Bellini, M., Zhao, E., Comeau, J.P., Sutton, A.K., Grens, C.M., Cressler, J.D., Jin Cai, Ning, T.H.
Publikováno v:
Proceedings of the Bipolar/BiCMOS Circuits & Technology Meeting, 2005; 2005, p256-259, 4p
Autor:
Ning, T.H.
Publikováno v:
Proceedings of the 10th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2003); 2003, p1-4, 4p
Autor:
Ning, T.H.
Publikováno v:
2003 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.03CH37407); 2003, p5-8, 4p
Autor:
Ning, T.H.
Publikováno v:
2003 International Symposium on VLSI Technology, Systems & Applications. Proceedings of Technical Papers. (IEEE Cat. No.03TH8672); 2003, p121-124, 4p
Autor:
Ning, T.H.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2000 Custom Integrated Circuits Conference (Cat. No.00CH37044); 2000, p49-56, 8p
Autor:
Ning, T.H.
Publikováno v:
2000 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings 38th Annual (Cat. No.00CH37059); 2000, p1-6, 6p
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Shahidi, G.G., Ning, T.H., Chappell, T.I., Comfort, J.H., Chappell, B.A., Franch, R., Anderson, C.J., Cook, P.W., Schuster, S.E., Rosenfield, M.G., Polcari, M.R., Dennard, R.H., Davari, B.
Publikováno v:
Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting; 1993, p813-816, 4p
Autor:
Ning, T.H.
Publikováno v:
1991 GaAs IC Symposium Technical Digest; 1991, p15-18, 4p