Zobrazeno 1 - 10
of 81
pro vyhledávání: '"Niggemeyer, D."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Niggemeyer, D., Rudnick, E.M.
Publikováno v:
Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001; 2001, p299-304, 6p
Publikováno v:
Records of the IEEE International Workshop on Memory Technology, Design & Testing; 2000, p113-118, 6p
Publikováno v:
Records of the IEEE International Workshop on Memory Technology, Design & Testing; 2000, p85-90, 6p
Publikováno v:
Proceedings Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition 2000 (Cat. No. PR00537); 2000, p305-309, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Rudack, M., Niggemeyer, D.
Publikováno v:
Proceedings 1999 IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI Systems (EFT'99); 1999, p31-39, 9p
Autor:
Niggemeyer, D., Ruffer, M.
Publikováno v:
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, 1999 Proceedings (Cat No PR00078); 1999, p376-380, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.