Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Nier, M. E."'
Autor:
Zelsmann, Marc, Picard, Emmanuel, Calvo, Vincent, Charvolin, Thomas, Hadji, Emmanuel, Moriceau, Hubert, Heitzmann, Michel, Nier, M. E., Seassal, Christian, Letartre, Xavier
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2005, Issue 1, p23-31, 9p
Autor:
Pain, Laurent, Trouiller, Yorick, Barberet, Alexandra, Guirimand, O., Fanget, Gilles L., Martin, N., Quere, Yves, Nier, M. E., Lajoinie, Emile, Louis, Didier, Heitzmann, Michel, Scheiblin, P., Toffoli, A.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2000, Issue 1, p96-107, 12p
Autor:
Monfray, S., Skotnicki, T., Morand, Y., Descombes, S., Talbot, A., Dutartre, D., Leverd, F., Le Friec, Y., Palla, R., Pantel, R., Haond, M., Nier, M.-E., Vizioz, C., Louis, D.
Publikováno v:
IEEE International 2002 SOI Conference; 2002, p20-22, 3p
Autor:
Palun, L., Tedesco, S., Heitzman, M., Martin, F., Fraboulet, D., Dal'zotto, B., Nier, M. E., Mur, P., Charvolin, T., Mariolle, D.
Publikováno v:
Microelectronic Engineering; 2000, Vol. 53 Issue: 1 p167-170, 4p
Autor:
Heitzmann, M., Nier, M. E.
Publikováno v:
Microelectronic Engineering; 2000, Vol. 53 Issue: 1 p159-162, 4p
Autor:
Zelsmann, M., Picard, E., Charvolin, T., Hadji, E., Dal’zotto, B., Nier, M. E., Seassal, C., Rojo-Romeo, P., Letartre, X.
Publikováno v:
Applied Physics Letters; 9/23/2002, Vol. 81 Issue 13, p2340, 3p, 1 Diagram, 2 Graphs
Autor:
Monfray, S., Skotnicki, T., Morand, Y., Descombes, S., Coronel, P., Mazoyer, P., Harrison, S., Ribot, P., Talbot, A., Dutartre, D., Haond, M., Palla, R., Le Friec, Y., Leverd, F., Nier, M.-E., Vizioz, C., Louis, D.
Publikováno v:
2002 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (Cat. No.01CH37303); 2002, p108-109, 2p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.