Zobrazeno 1 - 10
of 138
pro vyhledávání: '"Niel, S."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2022 138
Autor:
Devoge, P., Aziza, H., Lorenzini, P., Masson, P., Julien, F., Marzaki, A., Malherbe, A., Delalleau, J., Cabout, T., Regnier, A., Niel, S.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2022 138
Autor:
Devoge, P., Aziza, H., Lorenzini, P., Julien, F., Marzaki, A., Malherbe, A., Mantelli, M., Cabout, T., Delalleau, J., Haendler, S., Regnier, A., Niel, S.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2021 126
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2021 126
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2020 114
Autor:
Della Marca, V., Just, G., Regnier, A., Ogier, J.-L., Simola, R., Niel, S., Postel-Pellerin, J., Lalande, F., Masoero, L., Molas, G.
Publikováno v:
In Solid State Electronics January 2013 79:210-217
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Anaesthesist; Feb2022, Vol. 71 Issue 2, p117-122, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mangelinck, D. ∗, Gas, P., Badéche, T., Taing, E., Nemouchi, F., Perrin-Pellegrino, C., Vuaroqueaux, M., Niel, S., Fornara, P., Mirabel, J.M., Fares, L., Albarede, P.H.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2003 70(2):220-225