Zobrazeno 1 - 10
of 641
pro vyhledávání: '"Niel, S."'
Publikováno v:
Synlett. 2017, Vol. 28 Issue 8, p934-938. 5p.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2022 138
Autor:
Devoge, P., Aziza, H., Lorenzini, P., Masson, P., Julien, F., Marzaki, A., Malherbe, A., Delalleau, J., Cabout, T., Regnier, A., Niel, S.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2022 138
Autor:
Devoge, P., Aziza, H., Lorenzini, P., Julien, F., Marzaki, A., Malherbe, A., Mantelli, M., Cabout, T., Delalleau, J., Haendler, S., Regnier, A., Niel, S.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2021 126
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2021 126
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2020 114
Autor:
Della Marca, V., Just, G., Regnier, A., Ogier, J.-L., Simola, R., Niel, S., Postel-Pellerin, J., Lalande, F., Masoero, L., Molas, G.
Publikováno v:
In Solid State Electronics January 2013 79:210-217
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
SMCC Higher Education Research Journal (Hotel & Restaurant Management Journal); Jun2021, Vol. 5 Issue 1, p12-21, 10p
Autor:
Abboud, Leila (AUTHOR)
Publikováno v:
Bloomberg.com. 8/31/2016, pN.PAG-N.PAG. 1p.