Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Ng Tsu Hau"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
IP protection is of major importance for a semiconductor company and only limited information is made available for device debugging for the product outsourced to a foundry. In order to position ourselves better in the ever competitive semiconductor
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c5f6f9ef9c56d5502f684c4b74c740ef
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2012p0411
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2012p0411
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Huang, Maggie Y.M., Lam, Jeffrey C.K., Tan, Hao, Ng, Tsu Hau, Dawood, Mohammed Khalid Bin, Mai, Zhi Hong
Publikováno v:
Advanced Materials Research; August 2013, Vol. 740 Issue: 1 p680-689, 10p