Zobrazeno 1 - 10
of 37
pro vyhledávání: '"Nesbit, L."'
Autor:
Radens, C.J., Kudelka, S., Nesbit, L., Malik, R., Dyer, T., Dubuc, C., Joseph, T., Seitz, M., Clevenger, L., Arnold, N., Mandelman, J., Divakaruni, R., Casarotto, D., Lea, D., Jaiprakash, V.C., Sim, J., Faltermeier, J., Low, K., Strane, J., Halle, S.
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 2000. Technical Digest. IEDM (Cat. No.00CH37138); 2000, p349-352, 4p
Autor:
Nesbit, L., Alsmeier, J., Chen, B., DeBrosse, J., Faheyk, P., Gall, M., Gambino, J., Gernhard, S., Ishiuchi, H., Kleinhenz, R., Mandelman, J., Mii, T., Morikado, M., Nitayama, A., Parke, S., Wong, H., Bronner, G.
Publikováno v:
Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting; 1993, p627-630, 4p
Autor:
Crowder, S., Stiffler, S., Parries, P., Bronner, G., Nesbit, L., Wille, W., Powell, M., Ray, A., Chen, B., Davari, B.
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting IEDM Technical Digest; 1997, p45-48, 4p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; 1986, Vol. 33 Issue 6, p766-771, 6p
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films; 1986, Vol. 4 Issue 6, p3106-3110, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nesbit L. Carwile, Glenn W. Geil
Publikováno v:
Journal of Research of the National Bureau of Standards. 43:527
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4d2537327035fcef7df5b7552d00ee49
https://doi.org/10.6028/jres.043.045
https://doi.org/10.6028/jres.043.045