Zobrazeno 1 - 10
of 30
pro vyhledávání: '"Nemoto, Shunsuke"'
Autor:
Melamed, Samson, Watanabe, Naoya, Nemoto, Shunsuke, Shimamoto, Haruo, Kikuchi, Katsuya, Aoyagi, Masahiro
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2017 79:380-386
Autor:
Melamed, Samson, Watanabe, Naoya, Nemoto, Shunsuke, Shimamoto, Haruo, Kikuchi, Katsuya, Aoyagi, Masahiro
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2016 67:2-8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Aoyagi, Masahiro, Watanabe, Naoya, Kikuchi, Katsuya, Nemoto, Shunsuke, Arima, Noriaki, Ishizuka, Misaki, Suzuki, Koji, Shiomi, Toshio
Publikováno v:
2015 IEEE 17th Electronics Packaging & Technology Conference (EPTC); 1/1/2015, p1-5, 5p
Publikováno v:
2015 21st International Workshop on Thermal Investigations of ICs & Systems (THERMINIC); 2015, p1-4, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Imura, Fumito, Watanabe, Naoya, Nemoto, Shunsuke, Feng, Wei, Kikuchi, Katsuya, Nakagawa, Hiroshi, Aoyagi, Masashiro
Publikováno v:
2014 IEEE 64th Electronic Components & Technology Conference (ECTC); 2014, p1915-1920, 6p
Autor:
Watanabe, Naoya, Nemoto, Shunsuke, Kikuchi, Katsuya, Aoyagi, Masahiro, Tokuhisa, Tomoaki, Owada, Takuo, Kato, Masaru
Publikováno v:
2014 IEEE 16th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC); 2014, p525-530, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bui, Tung Thanh, Suzuki, Motohiro, Kato, Fumiki, Watanabe, Naoya, Nemoto, Shunsuke, Kikuchi, Katsuya, Aoyagi, Masahiro
Publikováno v:
2013 IEEE 63rd Electronic Components & Technology Conference; 2013, p425-430, 6p