Výsledky vyhledávání - "Nelhiebel, N."

Akademický článek

Application of quantitative modal analysis for investigation of thermal degradation of microelectronic packages

Autor: Rafiee, P., Khatibi, G., Nelhiebel, N., Pelzer, R.

Publikováno v: In Microelectronics Reliability September-November 2013 53(9-11):1563-1567

Zobrazit plný text záznamu

The mixed dynamic form factor for atomic core-level excitations in interferometric electron-energy-loss experiments

Autor: M. Nelhiebel, N. Luchier, P. Schorsch

Publikováno v: Philosophical Magazine B. 79:941-953

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1c6eaa8d32e19f55afee2ea5422622e5
https://doi.org/10.1080/014186399257014

Zobrazit plný text záznamu