Zobrazeno 1 - 10
of 229
pro vyhledávání: '"Nelhiebel, M."'
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 7/21/2024, Vol. 136 Issue 3, p1-13, 13p
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:389-392
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:721-725
Autor:
Kalha, C., Reisinger, M., Thakur, P. K., Lee, T.-L., Venkatesan, S., Isaacs, M., Palgrave, R. G., Zechner, J., Nelhiebel, M., Regoutz, A.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 4/28/2022, Vol. 131 Issue 16, p1-14, 14p
Autor:
Pribahsnik, F.P., Nelhiebel, M., Mataln, M., Bernardoni, M., Prechtl, G., Altmann, F., Poppitz, D., Lindemann, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:304-308
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability April 2017 71:91-98
Autor:
Kalha, C., Bichelmaier, S., Fernando, N. K., Berens, J. V., Thakur, P. K., Lee, T.-L., Gutiérrez Moreno, J. J., Mohr, S., Ratcliff, L. E., Reisinger, M., Zechner, J., Nelhiebel, M., Regoutz, A.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 5/21/2021, Vol. 129 Issue 19, p1-14, 14p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2 April 2015 137:64-69