Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Nekrasov, Pavel V."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2015 15th European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems (RADECS); 2015, p1-4, 4p
Publikováno v:
2015 15th European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems (RADECS); 2015, p1-4, 4p
Publikováno v:
2015 15th European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems (RADECS); 2015, p1-4, 4p
Autor:
Chumakov, Alexander I., Pechenkin, Alexander A., Savchenkov, Dmitry V., Yanenko, Andrey V., Kessarinskiy, Leonid N., Nekrasov, Pavel V., Sogoyan, Armen V., Tararaksin, Alexander I., Vasil'ev, Alexey L., Anashin, Vasily S., Chubunov, Pavel A.
Publikováno v:
2013 14th European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems (RADECS); 2013, p1-4, 4p
Autor:
Kessarinskiy, Leonid N., Boychenko, Dmitry V., Petrov, Andrey G., Nekrasov, Pavel V., Sogoyan, Armen V., Anashin, Vasily S., Chubunov, Pavel A.
Publikováno v:
2014 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW); 2014, p1-3, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Bias conditions and functional test procedure influence on PowerPC7448 microprocessor TID tolerance.
Autor:
Karakozov, Andrey B., Korneev, Oleg V., Nekrasov, Pavel V., Sokolov, Michail N., Zagryadsky, Dmitry A.
Publikováno v:
2013 14th European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems (RADECS); 2013, p1-2, 2p