Zobrazeno 1 - 10
of 700
pro vyhledávání: '"Naulleau, Patrick P."'
Autor:
Martins, Henrique P., Conti, Giuseppina, Cordova, Isvar, Falling, Lorenz, Kersell, Heath, Salmassi, Farhad, Gullikson, Eric, Vishik, Inna, Baeumer, Christoph, Naulleau, Patrick, Schneider, Claus M., Nemsak, Slavomir
Near total reflection regime has been widely used in X-ray science, specifically in grazing incidence small angle X-ray scattering and in hard X-ray photoelectron spectroscopy. In this work, we introduce some practical aspects of using near total ref
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2108.06413
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Burkhardt, Martin, van Lare, Claire, Cousin, Seth L., Dong, Feng, Hettermann, Matt, Houser, Dave, Naulleau, Patrick
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; April 2024, Vol. 12953 Issue: 1 p129531D-129531D-2, 1165782p
Autor:
Burkhardt, Martin, van Lare, Claire, Sherwin, Stuart, Hettermann, Matt, Houser, Dave, Naulleau, Patrick
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; April 2024, Vol. 12953 Issue: 1 p129530F-129530F-13, 12823484p
Autor:
Naulleau, Patrick P., Gargini, Paolo A., Itani, Toshiro, Ronse, Kurt G., Mueller, Maximillian, McAfee, Terry, Naulleau, Patrick, Oh, Dahyun, Kostko, Oleg
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; November 2023, Vol. 12750 Issue: 1 p127500X-127500X-10, 12622511p
Autor:
Naulleau, Patrick P., Gargini, Paolo A., Itani, Toshiro, Ronse, Kurt G., Kostko, Oleg, McAfee, Terry R., Naulleau, Patrick
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; November 2023, Vol. 12750 Issue: 1 p127500K-127500K-6, 1147507p
Publikováno v:
In Optics Communications 1 November 2017 402:167-172
Achievement of ultimate zero thermal expansion in super invar based alloy for stable optical systems
Autor:
Naulleau, Patrick P., Gargini, Paolo A., Itani, Toshiro, Ronse, Kurt G., Fujii, Hiromichi T., Sakaguchi, Naoki, Ohno, Haruyasu, Ona, Kotaro
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; November 2023, Vol. 12750 Issue: 1 p127500T-127500T-12, 12622513p
Autor:
Naulleau, Patrick P., Gargini, Paolo A., Itani, Toshiro, Ronse, Kurt G., Yamakawa, Shinji, Harada, Tetsuo, Watanabe, Takeo
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; November 2023, Vol. 12750 Issue: 1 p127500Y-127500Y-7, 1147508p