Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Naoyuki J. Kawai"'
Publikováno v:
Japanese Journal of Applied Physics. 61:096502
The procedure of Fourier transform infrared absorption (FT-IR) at room temperature for quantifying C impurities in Si crystals was reexamined to improve the detection limit down to 5 × 1014 cm−3. Since the substitutional C absorption peak overlaps
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a2e22e1ad7585a58f359742353f76e43
https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac808d
https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac808d
Publikováno v:
2015 11th Conference on Lasers and Electro-Optics Pacific Rim (CLEO-PR).
A novel waveguide crossing structure is proposed, where Si waveguides are tapered off at the crossing. Two-dimensional finite difference time domain simulation indicates that the presented crossing have low insertion loss of 0.01dB/crossing around 15
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ecd5200679df8ba8208d15c8d6b74576
https://doi.org/10.1109/cleopr.2015.7375915
https://doi.org/10.1109/cleopr.2015.7375915
Autor:
Kimihiro Ohta, Hideo Funabashi, Tsunenori Sakamoto, Tadashi Nakagawa, Naoyuki J. Kawai, Takeshi Kojima, Mitsuo Kawashima
Publikováno v:
Journal of Electronic Materials. 15:97-101
The precision of layering of crystals grown by the Phase-Locked Epitaxy (PLE) method, which controls the molecular beam by monitoring the reflection high energy electron diffraction (RHEED) intensity, is investigated by photoluminescence from quantum
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bac679766d382fe6d62f99eb0c175ab2
https://doi.org/10.1007/bf02649910
https://doi.org/10.1007/bf02649910
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.