Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Nam, Hwayong"'
Autor:
Nam, Hwayong, Baek, Seungmin, Wi, Minbok, Kim, Michael Jaemin, Park, Jaehyun, Song, Chihun, Kim, Nam Sung, Ahn, Jung Ho
The demand for precise information on DRAM microarchitectures and error characteristics has surged, driven by the need to explore processing in memory, enhance reliability, and mitigate security vulnerability. Nonetheless, DRAM manufacturers have dis
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2405.02499
Autor:
Nam, Hwayong, Baek, Seungmin, Wi, Minbok, Kim, Michael Jaemin, Park, Jaehyun, Song, Chihun, Kim, Nam Sung, Ahn, Jung Ho
The demand for accurate information about the internal structure and characteristics of dynamic random-access memory (DRAM) has been on the rise. Recent studies have explored the structure and characteristics of DRAM to improve processing in memory,
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2306.03366
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.