Zobrazeno 1 - 10
of 12
pro vyhledávání: '"Nakhodkin, N. G."'
Publikováno v:
Ukrainian Journal of Physics; Vol. 60 No. 2 (2015); 165
Український фізичний журнал; Том 60 № 2 (2015); 165
Український фізичний журнал; Том 60 № 2 (2015); 165
The thickness dependence of the surface roughness and the grain size of nanosilicon films, produced by low-pressure chemical vapour deposition, has been found, by using atomic force microscopy. A correlation between the surface roughness, grain size,
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=issn20710194::906b3de64f83688c6fb2ddf5592d9f8a
https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019277
https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019277
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chumakov, Alexandr G., Kisil, Alexandr V., Kovalenko, Andry V., Kurashov, Vitalij N., Nakhodkin, N. G., Podanchuk, Dmitrij V.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov1993, Issue 1, p332-337, 6p
Autor:
Nakhodkin, N. G., Rodionova, T. V.
Publikováno v:
Surface & Interface Analysis: SIA; 1992, Vol. 18 Issue 10, p709-712, 4p
Publikováno v:
Surface Science; 2002, Vol. 497 Issue: 1-3 p47-58, 12p
Publikováno v:
Theoretical and Experimental Chemistry; May 1996, Vol. 32 Issue: 3 p148-151, 4p
Autor:
Nakhodkin, N. G., Rodionova, T. V.
Publikováno v:
Journal of Crystal Growth; 1997, Vol. 171 Issue: 1 p50-55, 6p
Publikováno v:
Surface Science; 1997, Vol. 384 Issue: 1 pL844-L847, 4p
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
CIÊNCIAVITAE
CIÊNCIAVITAE
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::2e98d204f9b455eee746a38a9f74639d
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-57749089002&partnerID=MN8TOARS
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-57749089002&partnerID=MN8TOARS
Publikováno v:
Measurement Techniques; February 1988, Vol. 31 Issue: 2 p179-181, 3p