Zobrazeno 1 - 10
of 61
pro vyhledávání: '"Nakai, Tomoo"'
Autor:
Nakai, Tomoo1 (AUTHOR) nakai-to693@pref.miyagi.lg.jp
Publikováno v:
Sensors (14248220). Jan2024, Vol. 24 Issue 2, p706. 23p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nakai, Tomoo1 (AUTHOR) nakai-to693@pref.miyagi.lg.jp
Publikováno v:
Sensors (14248220). May2022, Vol. 22 Issue 9, p3120-3120. 18p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Sensors & Actuators: A. Physical 1 July 2015 230:142-149
Autor:
Kikuchi, Hiroaki, Oe, Suguru, Uetake, Hiroaki, Yabukami, Shin, Nakai, Tomoo, Hashi, Shuichiro, Ishiyama, Kazushi
Publikováno v:
In Physics Procedia 2015 75:1271-1278
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nakai, Tomoo1 (AUTHOR) nakai-to693@pref.miyagi.lg.jp
Publikováno v:
International Journal of Applied Electromagnetics & Mechanics. 2019, Vol. 59 Issue 1, p105-114. 10p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nakai, Tomoo
Publikováno v:
Micromachines
Micromachines, Vol 13, Iss 127, p 127 (2022)
Micromachines; Volume 13; Issue 1; Pages: 127
Micromachines, Vol 13, Iss 127, p 127 (2022)
Micromachines; Volume 13; Issue 1; Pages: 127
Advanced manufacturing processes require an in-line full inspection system. A nondestructive inspection system able to detect a contaminant such as tool chipping was utilized for the purpose of detecting a defective product as well as damaged machine