Zobrazeno 1 - 10
of 38
pro vyhledávání: '"Naftel, S. J"'
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 5/1/2003, Vol. 93 Issue 9, p5191, 5p, 1 Diagram, 5 Graphs
Autor:
Sammynaiken, R., Naftel, S. J., Sham, T. K., Cheah, K. W., Averboukh, B., Huber, R., Shen, Y. R., Qin, G. G., Ma, Z. C., Zong, W. H.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 9/15/2002, Vol. 92 Issue 6, p3000, 7p, 7 Graphs
Autor:
Sun, X.-H., Tang, Y.-H., Zhang, P., Naftel, S. J., Sammynaiken, R., Sham, T. K., Peng, H. Y., Zhang, Y.-F., Wong, N. B., Lee, S. T.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 12/15/2001, Vol. 90 Issue 12, p6379, 5p, 1 Black and White Photograph, 4 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 5/1/1996, Vol. 79 Issue 9, p7134, 5p, 1 Chart, 5 Graphs
Autor:
Sammynaiken, R., Naftel, S. J, Sham, T. K., Cheah, K. W., Averboukh, B., Huber, Rupert, Shen, Y. R., Qin, G. G., Ma, Z. C., Zong, W. H.
We report an x-ray absorption fine structure study at the Si K and L3,2 edges of a series of Si/SiO2 superlattices (SL). The SL system comprises four periods of elemental silicon with a spacing of 1, 1.4, 2.2, and 2.6 nm sandwiched by a 1.5 nm silico
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::649e1728375cc4989119a4b58ad52fc7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Biogeochemistry of Trace Elements in the Rhizosphere; 2005, p29-55, 27p, 1 Diagram, 3 Charts, 3 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Coulthard, I., Antel, W. J., Frigo, S. P., Freeland, J. W., Moore, J., Calaway, W. S., Pellin, M. J., Mendelsohn, M., Sham, T. K., Naftel, S. J., Stampfl, A. P. J.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films; 2000, Vol. 18 Issue 4, p1955-1958, 4p
Autor:
Sun, X. H., Sammynaiken, R., Naftel, S. J., Tang, Y. H., Zhang, P., Kim, P.-S., Sham, T. K., Fan, X. H., Zhang, Y.-F., Lee, C. S., Lee, S. T., Wong, N. B., Hu, Y.-F., Tan, K. H.
Publikováno v:
Chemistry of Materials; June 2002, Vol. 14 Issue: 6 p2519-2526, 8p