Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Naeem, Azhar Muhammad"'
Publikováno v:
Canadian Journal of Physics, 2019, 97:875-879
This paper presents the standardization of Proton Induced X-rays Emission (PIXE) technique for the trace element analysis of thick standard samples. Three standard reference materials (SRMs) viz-\`a-vis titanium, copper and iron base alloys were used
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1703.04532
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Mathematics; 2022, Vol. 2022 Issue: 1
Publikováno v:
Journal of Mathematics; 2020, Vol. 2020 Issue: 1