Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Nadeem Firoz"'
Publikováno v:
Colloid Journal; Dec2024, Vol. 86 Issue 6, p990-998, 9p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2021 IEEE 18th India Council International Conference (INDICON).
Publikováno v:
2021 International Semiconductor Conference (CAS).
Accurate electrical characterization of thin film transistor (TFT), requires measurement of its contact resistance. This work describes experimental extraction of contact resistance in top contact a-IGZO TFTs using a four-terminal structure. The auxi
Autor:
Nadeem Firoz, Baquer Mazhari
Publikováno v:
Journal of Physics D: Applied Physics. 53:355104