Zobrazeno 1 - 10
of 420
pro vyhledávání: '"Nabatame, T."'
Autor:
Cheng, L., Da, B., Liu, X., Shigeto, K., Tsukagoshi, K., Nabatame, T., Liu, J. W., Zhang, H., Yoshikawa, H., Tanuma, S., Gao, Z. S., Guo, H. X., Sun, Y., Hu, J., Ding, Z. J.
We report a promising InSiO film that allows simultaneous observation of sample morphology and Kikuchi patterns in raster scan mode of scanning electron microscopy. This new experimental observation suggests potential mechanism beyond existing diffra
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2211.07144
Autor:
equally, contribute, Tsukagoshi, K., Nabatame, T., Ding, Z. J., Sun, Y., Hu, J., Liu, J. W., Tang, D. M., Zhang, H., Gao, Z. S., Guo, H. X., Yoshikawa, H., Tanuma, S.
The Kikuchi bands arise from Bragg diffraction of incoherent electrons scattered within a crystalline specimen and can be observed in both the transmission and reflection modes of scanning electron microscopy (SEM). Converging, rocking, or grazing in
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2205.13690
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nabatame, T., Nunoshige, Y., Kadoshima, M., Takaba, H., Segawa, K., Kimura, S., Satake, H., Ota, H., Ohishi, T., Toriumi, A.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2008 85(7):1524-1528
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(9):1861-1864
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.