Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"Na Yun, Se Re"'
1
Akademický článek
New experimental findings on hot-carrier-induced degradation in lateral DMOS transistors
Autor: Lee, In Kyung, Na Yun, Se Re, Kim, Kyo Sun, Yu, Chong Gun, Park, Jong Tae
Publikováno v: In Microelectronics Reliability 2006 46(9):1864-1867
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje