Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Na Byunghoon"'
Autor:
Bang, Jeongil, Do, Eun Cheol, Kim, Haeryong, Kim, Hyungjun, Park, Bo‐Eun, Na, Byunghoon, Lee, Jooho, Park, Sehyuck, Jang, Ho Won, Lee, Jaeho
Publikováno v:
Advanced Electronic Materials; Jun2024, Vol. 10 Issue 6, p1-7, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Young-Nam Kwon, Na Byunghoon, Jungmin Park, Myoungho Jeong, Han-jin Lim, Euijoon Yoon, Beom-jong Kim
Publikováno v:
Ferroelectrics. 571:76-84
Epitaxial SrTiO 3 thin films were grown by molecular beam epitaxy (MBE) using an oxygen plasma source. SrO and TiO2 layers were alternately deposited on 0.5 wt% (001) Nb doped SrTiO3 substrates who...
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::af388a4e54015856108fe7839e538970
https://doi.org/10.1080/00150193.2020.1853741
https://doi.org/10.1080/00150193.2020.1853741
Autor:
Kim, Beomjong, Na, Byunghoon, Kwon, Youngnam, Jeong, Myoungho, Kim, Yongsung, Lim, Hanjin, Yoon, Euijoon
Publikováno v:
In Materials Letters 15 December 2020 281
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yongsung Kim, Beom-jong Kim, Han-jin Lim, Young-Nam Kwon, Myoungho Jeong, Euijoon Yoon, Na Byunghoon
Publikováno v:
Materials Letters. 281:128375
The SrRuO3 (SRO) thin films were epitaxially grown on (0 0 1) SrTiO3 (STO) substrates using plasma assisted molecular beam epitaxy (MBE). In order to identify how the cation flux affects the surface characteristics, films were grown at different Sr/R
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c0c2be75fc5a9f8468120bfb8fcb6085
https://doi.org/10.1016/j.matlet.2020.128375
https://doi.org/10.1016/j.matlet.2020.128375
Autor:
Kim, Beomjong, Na, Byunghoon, Park, Jungmin, Kwon, Youngnam, Jeong, Myoungho, Lim, Hanjin, Yoon, Euijoon
Publikováno v:
Ferroelectrics; 2021, Vol. 571 Issue 1, p76-84, 9p