Zobrazeno 1 - 10
of 39
pro vyhledávání: '"N.J. Chou"'
Publikováno v:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 45:86-90
In high-performance microelectronic packaging technology, multilayer ceramic substrates are used as multiple chip carriers by most of the mainframe computer manufacturers. Depending on the processing steps employed in the technology, varying amounts
Publikováno v:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 45:216-218
The diffusion of Si in thin films of photoresist during silylation was investigated using Rutherford backscattering spectroscopy (RBS) and the chemical reaction was studied by X-ray photoemission spectroscopy (XPS). Initially, Si diffuses very rapidl
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. 19:198-204
The effects of insulator thickness fluctuations on the charge storage characteristics of MNOS direct tunneling devices were investigated, using capacitor structures carefully fabricated by depositing Si 3 N 4 layers on thermally grown SiO 2 films. Th
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. 25:60-62
Autor:
M.W. Shafer, N.J. Chou
Publikováno v:
Surface Science Letters. 92:A65
Analysis of the existing model of preferred sputtering for SIMS and Auger depth profiling shows that while the model is theoretically sound, there are some inconsistencies related to time scale, sputter yield, matrix effect, etc., which arise from im
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.