Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"N. Shinkel"'
Autor:
A. Wall, Steve Rozeveld, J. Kerbleski, N. Shinkel, Scott Sprague, Melissa Mushrush, C. Alvey, M. Behr, Madan Kumar Sharma, C. Wintland, T. Hasan
Publikováno v:
Thin Solid Films. 665:36-45
In this paper, we report the effect of growth conditions on the properties of sputtered precursor thin films for CuIn1-xGaxSe2 (CIGS) absorber layers. Specifically, precursor films containing Cu, In, Ga, and Se were deposited via co-sputtering on fle
Growth of polycrystalline zinc phosphide thin films by reactive radio frequency magnetron sputtering
Autor:
Kenneth L. Kearns, M. Woodward, Madan Kumar Sharma, Robert J. Wright, P. Small, Scott Sprague, N. Shinkel, Steve Rozeveld, Clifford S. Todd, Melissa Mushrush
Publikováno v:
Thin Solid Films. 591:32-38
Polycrystalline, tetragonal ( P42 / nmc ) zinc phosphide (Zn 3 P 2 ) thin films were deposited on borosilicate glass substrates by reactive radio frequency (r.f.) sputtering of zinc (Zn) in the presence of phosphine gas (PH 3 ). Various sputtering pa
Autor:
R. Ziebarth, N. Shinkel, A. Pyzik, Clifford S. Todd, N. Das, M. Malanga, K. Howard, D. Grohol, R. Newman
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 19:1878-1879
Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2013 in Indianapolis, Indiana, USA, August 4 – August 8, 2013.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.