Zobrazeno 1 - 10
of 119
pro vyhledávání: '"N. Ookubo"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
K. Tanabe, Shinichi Kiso, M. Nakamuta, Shusuke Morizono, N. Togawa, Munechika Enjoji, Kenji Ohe, N. Ookubo
Publikováno v:
Journal of Hepatology. 68:S350-S351
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Porous Materials. 7:93-96
We present the results of theoretical calculations for electronic structures and photoluminescence (PL) spectrum of porous silicon whose morphology is generated through the diffusion limited aggregation process of pores in a two-dimensional honeycomb
Publikováno v:
Applied Physics A: Materials Science & Processing. 69:51-54
A fast imaging method in a contact-mode atomic force microscope (AFM) is examined for its principle and performance, where the image is acquired by combining a cantilever signal and a feedback signal applied to a piezotube. The frequency component of
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Surface Review and Letters. :1157-1161
We propose a “quantum-sponge” model for porous silicon. This model exhibits energy-gap widening and nonexponential decay of photoluminescence describable by the stretched exponential function. These properties are in good agreement with those obs
Publikováno v:
Physical Review B. 49:5236-5245
We propose a model for porous silicon, an irregular structure obtained by removing some silicon atoms randomly from a perfect silicon crystal. It is shown by using two-dimensional clusters with a tight-binding model that this model exhibits the energ
Publikováno v:
Applied Physics A: Materials Science & Processing. 74:261-263
Using a laterally oscillating all-metallic probe, a scanning capacitance microscope (SCM) has been used to yield an image of the spatial derivative of the local capacitance, dC/dX, where C and X are the local capacitance and the axis of the probe tip