Výsledky vyhledávání - "N. Havercroft"

ToF-SIMS, Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy for Counterfeit Detection of Electrical, Electronic, and Electromechanical (EEE) Parts

Autor: E. Tallarek, C. Banks, M. Simard-Normandin, P.A. Clark, N. Havercroft

Publikováno v: International Symposium for Testing and Failure Analysis.

This presentation demonstrates how Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy provides unique information to identify suspect counterfeit semiconductor devices. An example is shown where the epitaxial layers of a light emitting device (LED) do no

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f4bddba9e73266dc7ce3be14435c50d9
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2019p0053

Zobrazit plný text záznamu

Characterizing Optical Coatings and OLED Devices Using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Autor: R. Kersting, N. Havercroft, E. Tallarek, P.A. Clark

Publikováno v: Annual Technical Conference Proceedings.

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9ad720f2284324ed0dba3356535ddb5d
https://doi.org/10.14332/svc14.proc.1807

Zobrazit plný text záznamu

3-D Molecular Depth Profiling of Biological and Polymeric Materials Using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Autor: Birgit Hagenhoff, Elke Tallarek, D. Breitenstein, N. Havercroft, P.A. Clark

Publikováno v: Microscopy and Microanalysis. 19:664-665

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2013 in Indianapolis, Indiana, USA, August 4 – August 8, 2013.

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::72607a9dc73ed0865293c9dbd376a628
https://doi.org/10.1017/s143192761300531x

Zobrazit plný text záznamu

Analysis of Writing Inks by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry – A Forensic Case Study

Autor: A Schnieders, N Havercroft, AH Lyter

Publikováno v: Microscopy and Microanalysis. 16:390-391

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2010 in Portland, Oregon, USA, August 1 – August 5, 2010.

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a00c12b5055edb4859079f9672bc6991
https://doi.org/10.1017/s1431927610059945

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání