Zobrazeno 1 - 10
of 61
pro vyhledávání: '"N. Guitard"'
Publikováno v:
Cytotherapy. 25:S103
Autor:
C. Helissey, N. Guitard, H. Théry, S. Goulinet, P. Mauduit, M. Girleanu, A. Favier, M. Drouet, C. Chargari, S. Cavallero
Publikováno v:
Cytotherapy. 24:S69
Autor:
Christophe Gaquiere, Alexis Gauthier, Etienne Okada, N. Guitard, Pascal Chevalier, W. Aouimeur
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters
IEEE Electron Device Letters, 2020, 41 (1), pp.12-14. ⟨10.1109/LED.2019.2954600⟩
IEEE Electron Device Letters, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020, 41 (1), pp.12-14. ⟨10.1109/LED.2019.2954600⟩
IEEE Electron Device Letters, 2020, 41 (1), pp.12-14. ⟨10.1109/LED.2019.2954600⟩
IEEE Electron Device Letters, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020, 41 (1), pp.12-14. ⟨10.1109/LED.2019.2954600⟩
This letter deals with the load-pull measurements at 94 GHz of 450 GHz Si/SiGe ${f} _{\text {T}}$ HBTs. On the one hand the technological modifications performed to improve large signal performances are presented and on the other hand, load-pull meas
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::73a20136a29102822ce3a4ac772a4b37
https://hal.science/hal-03322806
https://hal.science/hal-03322806
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
A. Bravaix, Mustapha Rafik, N. Guitard, J. J. Martinez, Xavier Federspiel, D. Muller, David Roy, C. Diouf
Publikováno v:
IEEE International Reliability Physics Symposium, (IRPS)
IEEE International Reliability Physics Symposium, (IRPS), Mar 2018, Burlingame, California, United States
IRPS
2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Mar 2019, Monterey, France. pp.1-6, ⟨10.1109/IRPS.2019.8720544⟩
IEEE International Reliability Physics Symposium, (IRPS), Mar 2018, Burlingame, California, United States
IRPS
2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Mar 2019, Monterey, France. pp.1-6, ⟨10.1109/IRPS.2019.8720544⟩
International audience; Hot carrier injection is one of the more significant reliability issue in advanced CMOS technologies. If it is more and more critical in thin oxides due to gate length scaling, it is also problematic in thicker oxide due to hi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::6a9927b412867833dd9826af2cf40351
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-02111117
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-02111117
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
N. Guitard, Tyler Dant, M. Hoefer, Ales Tichy, M. Dondey, Patrick Martigne, L. Soyez, G. Gagna, C. R. Woodruff, Andreas Lamkowski, Zuzana Šinkorová, D. Boozer, David L. Bolduc, Michel Drouet, D. Stricklin, Matthäus Majewski, F. Entine, Harald Dörr, William F. Blakely, T. Costeira, A. De Amicis, S. François, Diane Riccobono, M. Valente, D. Métivier, Florigio Lista, G. La Sala, Matthias Port, G. Reeves, P. Loiacono, Michael Abend, Jaroslav Pejchal, Lenka Zárybnická, J. Pateux, X. Michel, S. De Sanctis, F. Herodin
Publikováno v:
Radiation Research. 187:273
The utility of early-phase (≤5 days) radiation-induced clinical signs and symptoms (e.g., vomiting, diarrhea, erythema and changes in blood cell counts) was examined for the prediction of later occurring acute radiation syndrome (ARS) severity and