Zobrazeno 1 - 10
of 11
pro vyhledávání: '"N. Andrianjohany"'
Autor:
Pierre Calvel, Xavier Marie, Robert Ecoffet, D. Standarovski, M. Mauguet, L. Gouyet, N. Andrianjohany, Delphine Lagarde, N. Chatry, L. Azema, R. Marec
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. 66:1516-1522
In this paper, we investigate single-event latchup (SEL) in complementary metal–oxide–semiconductor (CMOS)-based flip-flop structures combining heavy ions, laser pulses, and simulation. In the framework of exploring the use of lasers for single-e
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4144851081bddc2d1a1b581d7ac4c208
https://doi.org/10.1109/tns.2019.2920842
https://doi.org/10.1109/tns.2019.2920842
Publikováno v:
2020 20th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b5676a341371b115a902117a135690ba
https://doi.org/10.1109/radecs50773.2020.9857681
https://doi.org/10.1109/radecs50773.2020.9857681
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Cross-Calibration of Various SEE Test Methods Including Pulsed X-rays and Application to SEL and SEU
Autor:
G. Augustin, M. Mauguet, N. Andrianjohany, N. Chatry, F. Bezerra, E. Capria, M. Sander, K-O. Voss
Publikováno v:
2019 19th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6d3124c8954403f737445a130a31e235
https://doi.org/10.1109/radecs47380.2019.9745662
https://doi.org/10.1109/radecs47380.2019.9745662
Autor:
L. Gouyet, D. Standarovski, G. Augustin, Robert Ecoffet, W. Rahajandraibe, N. Andrianjohany, K. Coulie, N. Chatry
Publikováno v:
2018 18th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS).
We provide an experimental verification of SEE prediction results in continuity of our previous works. The aim of this study is to bring new contributions to the understanding of the various aspects related to prediction issues, and the keys physical
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::744125f139658b2dbe03b082f66fe0e0
https://doi.org/10.1109/radecs45761.2018.9328701
https://doi.org/10.1109/radecs45761.2018.9328701
Autor:
Robert Ecoffet, G. Rolland, W. Rahajandraibe, P. Pourrouquet, N. Andrianjohany, D. Standarovski, N. Chatry, K. Coulie
Publikováno v:
RADECS
RADECS, Sep 2016, Bremen, Germany
HAL
RADECS, Sep 2016, Bremen, Germany
HAL
This work reports a contribution to the evaluation of Single Event Effect (SEE) sensitivity. This prediction should allow designers to assess radiation sensitivity of Application Specific Integrated Circuit (ASIC) during the design stage in order to
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::677e9b864c9f34ef054a5df6773e8bad
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-01455417
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-01455417
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.