Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"N., Muthuram"'
Autor:
N., Muthuram, S., Saravanan
Publikováno v:
Microelectronics International, 2023, Vol. 41, Issue 2, pp. 89-95.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/MI-07-2022-0126
Publikováno v:
Materials Research Express, Vol 11, Iss 8, p 086301 (2024)
Electronic packages are employed in diverse industries, including automotive, aerospace, and defense. However, their susceptibility to failure arises from exposure to uncontrolled operating conditions, particularly vibrations.Therefore, an investigat
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9ddb14aa902f4afdb80405a4f0abc391
Publikováno v:
Journal of New Materials for Electrochemical Systems; Jan2024, Vol. 27 Issue 1, p60-66, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Materials Today: Proceedings. 68:1906-1920
Publikováno v:
Materials, Design and Manufacturing for Sustainable Environment ISBN: 9789811930522
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::628db13a7011698a0207b48ee4ef0bff
https://doi.org/10.1007/978-981-19-3053-9_23
https://doi.org/10.1007/978-981-19-3053-9_23
Autor:
F. Christo Frank, N. Muthuram
Publikováno v:
Materials Today: Proceedings. 46:8097-8102
In the industrial scenario, there is a requirement for robust tools to estimate the parameters of machining processes precisely. This can be achieved by employing optimization techniques in conjunction with state of the art prediction models to predi
Autor:
N. Muthuram, S. Saravanan
Publikováno v:
Microelectronics Journal. 129:105601
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.