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Publikováno v:
Soviet Journal of Quantum Electronics. 9:1123-1127
The possibility is considered of constructing a gasdynamic laser with thermal-nonequilibrium electric-arc heating of the energy-carrying component of the active medium and with selective excitation of the optically active component by mixing it into
Autor:
El Rammouz H; Univ. Polytechnique Hauts-de-France, CNRS, Univ. Lille, ISEN, Centrale Lille, UMR 8520 - IEMN - Institut d'electronique de Microelectronique et de Nanotechnologie, DOAE - Departement d'Opto-Acousto-electronique, F-59313 Valenciennes, France; Lebanese University, Faculty of Sciences II, Laboratory of Applied Physics, Fanar, Lebanon. Electronic address: halarammouz@gmail.com., Benmeddour F; Univ. Polytechnique Hauts-de-France, CNRS, Univ. Lille, ISEN, Centrale Lille, UMR 8520 - IEMN - Institut d'electronique de Microelectronique et de Nanotechnologie, DOAE - Departement d'Opto-Acousto-electronique, F-59313 Valenciennes, France., Assaad J; Univ. Polytechnique Hauts-de-France, CNRS, Univ. Lille, ISEN, Centrale Lille, UMR 8520 - IEMN - Institut d'electronique de Microelectronique et de Nanotechnologie, DOAE - Departement d'Opto-Acousto-electronique, F-59313 Valenciennes, France., Moulin E; Univ. Polytechnique Hauts-de-France, CNRS, Univ. Lille, ISEN, Centrale Lille, UMR 8520 - IEMN - Institut d'electronique de Microelectronique et de Nanotechnologie, DOAE - Departement d'Opto-Acousto-electronique, F-59313 Valenciennes, France., Smagin N; Univ. Polytechnique Hauts-de-France, CNRS, Univ. Lille, ISEN, Centrale Lille, UMR 8520 - IEMN - Institut d'electronique de Microelectronique et de Nanotechnologie, DOAE - Departement d'Opto-Acousto-electronique, F-59313 Valenciennes, France., Dupont L; Univ. Polytechnique Hauts-de-France, CNRS, Univ. Lille, ISEN, Centrale Lille, UMR 8520 - IEMN - Institut d'electronique de Microelectronique et de Nanotechnologie, DOAE - Departement d'Opto-Acousto-electronique, F-59313 Valenciennes, France., Chehami L; Univ. Polytechnique Hauts-de-France, CNRS, Univ. Lille, ISEN, Centrale Lille, UMR 8520 - IEMN - Institut d'electronique de Microelectronique et de Nanotechnologie, DOAE - Departement d'Opto-Acousto-electronique, F-59313 Valenciennes, France., Zaatar Y; Lebanese University, Faculty of Sciences II, Laboratory of Applied Physics, Fanar, Lebanon., Herro Z; Lebanese University, Faculty of Sciences II, Laboratory of Applied Physics, Fanar, Lebanon.
Publikováno v:
Ultrasonics [Ultrasonics] 2021 Aug; Vol. 115, pp. 106430. Date of Electronic Publication: 2021 Apr 23.
Autor:
Terzi M; Université de Lille, Centre National de la Recherche Scientifique, Centrale Lille, Université Polytechnique Hauts-de-France, Unité Mixte de Recherche 8520, Institut d'Électronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, F-59000 Lille, France., Chehami L; Université de Lille, Centre National de la Recherche Scientifique, Centrale Lille, Université Polytechnique Hauts-de-France, Unité Mixte de Recherche 8520, Institut d'Électronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, F-59000 Lille, France., Farin M; Institut Langevin, Centre National de la Recherche Scientifique, Unité Mixte de Recherche 7587, F-75231 Paris, France., Moulin E; Université de Lille, Centre National de la Recherche Scientifique, Centrale Lille, Université Polytechnique Hauts-de-France, Unité Mixte de Recherche 8520, Institut d'Électronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, F-59000 Lille, France., Aleshin V; Université de Lille, Centre National de la Recherche Scientifique, Centrale Lille, Université Polytechnique Hauts-de-France, Unité Mixte de Recherche 8520, Institut d'Électronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, F-59000 Lille, France., Smagin N; Université de Lille, Centre National de la Recherche Scientifique, Centrale Lille, Université Polytechnique Hauts-de-France, Unité Mixte de Recherche 8520, Institut d'Électronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, F-59000 Lille, France., de Rosny J; Institut Langevin, Centre National de la Recherche Scientifique, Unité Mixte de Recherche 7587, F-75231 Paris, France., Benmeddour F; Université de Lille, Centre National de la Recherche Scientifique, Centrale Lille, Université Polytechnique Hauts-de-France, Unité Mixte de Recherche 8520, Institut d'Électronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, F-59000 Lille, France.
Publikováno v:
The Journal of the Acoustical Society of America [J Acoust Soc Am] 2021 May; Vol. 149 (5), pp. 2943.
Autor:
Smagin N; Univ. Lille, CNRS, Centrale Lille, ISEN, Univ. Valenciennes, UMR 8520 - IEMN, LIA LICS/LEMAC, F-59000 Lille, France., Trifonov A; Univ. Lille, CNRS, Centrale Lille, ISEN, Univ. Valenciennes, UMR 8520 - IEMN, LIA LICS/LEMAC, F-59000 Lille, France., Bou Matar O; Univ. Lille, CNRS, Centrale Lille, ISEN, Univ. Valenciennes, UMR 8520 - IEMN, LIA LICS/LEMAC, F-59000 Lille, France., Aleshin VV; Univ. Lille, CNRS, Centrale Lille, ISEN, Univ. Valenciennes, UMR 8520 - IEMN, LIA LICS/LEMAC, F-59000 Lille, France; Tomsk State University, 634050 Tomsk, Russia. Electronic address: vladislav.aleshin@univ-lille.fr.
Publikováno v:
Ultrasonics [Ultrasonics] 2020 Dec; Vol. 108, pp. 106226. Date of Electronic Publication: 2020 Jul 15.
Autor:
Diab D; Univ. Polytech. Hauts-de-France, CNRS, Univ. Lille, ISEN, Centrale Lille, UMR 8520 - IEMN, DOAE, F-59313 Valenciennes, France., Lefebvre F; Univ. Polytech. Hauts-de-France, CNRS, Univ. Lille, ISEN, Centrale Lille, UMR 8520 - IEMN, DOAE, F-59313 Valenciennes, France., Nassar G; Univ. Polytech. Hauts-de-France, CNRS, Univ. Lille, ISEN, Centrale Lille, UMR 8520 - IEMN, DOAE, F-59313 Valenciennes, France., Smagin N; Univ. Polytech. Hauts-de-France, CNRS, Univ. Lille, ISEN, Centrale Lille, UMR 8520 - IEMN, DOAE, F-59313 Valenciennes, France., Isber S; Department of Physics, American University of Beirut, Bliss Street, Riad El-Solh, 1107-2020 Beirut, Lebanon., El Omar F; Laboratory of Physics and Modeling, EDST, Lebanese University, Tripoli 1300, Lebanon., Naja A; Laboratory of Physics and Modeling, EDST, Lebanese University, Tripoli 1300, Lebanon.
Publikováno v:
The Review of scientific instruments [Rev Sci Instrum] 2019 Jul; Vol. 90 (7), pp. 075004.