Zobrazeno 1 - 10
of 94
pro vyhledávání: '"Musselman, K.P."'
Autor:
Gan, J., Yu, M., Hoye, R.L.Z., Musselman, K.P., Li, Y., Liu, X., Zheng, Y., Zu, X., Li, S., MacManus-Driscoll, J.L., Qiao, L.
Publikováno v:
In Materials Today Nano March 2021 13
Autor:
Khot, A.C., Desai, N.D., Khot, K.V., Salunkhe, M.M., Chougule, M.A., Bhave, T.M., Kamat, R.K., Musselman, K.P., Dongale, T.D.
Publikováno v:
In Materials & Design 5 August 2018 151:37-47
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Solar Energy Materials and Solar Cells April 2015 135:43-48
Autor:
Alshehri, A.H., Loke, J.Y., Nguyen, V.H., Jones, A., Asgarimoghaddam, H., Delumeau, L.V., Shahin, A., Ibrahim, K.H., Mistry, K., Yavuz, M., Muñoz-Rojas, D., Musselman, K.P.
Nanoscale films are integral to all modern electronics. To optimize device performance, researchers vary the film thickness by making batches of devices, which is time-consuming and produces experimental artifacts. Thin films with nanoscale thickness
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a8ec04755db2100043c8919afdbf095d
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.