Zobrazeno 1 - 6 of 6 pro vyhledávání: '"Munakata, Hirofumi Shimizu"'
1
Periodical
Nondestructive Diagnostic Method Using AC Surface Photovoltage in Silicon Wafers Rinsed with Metal-Contaminated Water Solutions
Autor: Munakata, Hirofumi Shimizu
Publikováno v: Japanese Journal of Applied Physics; September 1993, Vol. 32 Issue: 9 p3775-3775, 1p
Zobrazit plný text záznamu
2
Periodical
Characterization of Damaged Layer Using AC Surface Photovoltage in Silicon Wafers
Autor: Munakata, Hirofumi Shimizu
Publikováno v: Japanese Journal of Applied Physics; September 1993, Vol. 32 Issue: 9 p3780-3780, 1p
Zobrazit plný text záznamu
3
Periodical
Confirmation of Aluminum-Induced Negative Charge in Native Silicon Dioxide
Autor: Munakata, Hirofumi Shimizu
Publikováno v: Japanese Journal of Applied Physics; October 1991, Vol. 30 Issue: 10 p2466-2466, 1p
Zobrazit plný text záznamu
4
Periodical
AC Photovoltaic Images of Thermally Oxidized P-Type Silicon Wafers Contaminated with Metals
Autor: Munakata, Hirofumi Shimizu
Publikováno v: Japanese Journal of Applied Physics; August 1992, Vol. 31 Issue: 8 p2319-2319, 1p
Zobrazit plný text záznamu
5
Periodical
Effect of Aluminum on Ac Surface Photovoltages in Thermally Oxidized n-Type Silicon Wafers
Autor: Munakata, Hirofumi Shimizu
Publikováno v: Japanese Journal of Applied Physics; March 1992, Vol. 31 Issue: 3 p729-729, 1p
Zobrazit plný text záznamu
6
Periodical
Confirmation of Aluminum-Induced Negative Charge in Thermally Oxidized Silicon Wafers Using AC Surface Photovoltage Method
Autor: Munakata, Hirofumi Shimizu
Publikováno v: Japanese Journal of Applied Physics; June 1994, Vol. 33 Issue: 6 p3335-3335, 1p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje