Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Multiple-node upsets (MNUs)"'
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 8, Pp 126582-126590 (2020)
Multiple-node upsets (MNUs) caused by charge sharing effects are dramatically increasing in advanced nanoscale digital latches. Consequently, the robust latches against MNU cases are increasingly important. Although some existing robust latches are d
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/1b8474903ef241adafb4da074c903d67
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.