Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Muhle, Uwe"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yeap, Kong Boon, Gall, Martin, Sander, Christoph, Niese, Sven, Liao, Zhongquan, Ritz, Yvonne, Rosenkranz, Rudiger, Muhle, Uwe, Gluch, Jurgen, Zschech, Ehrenfried, Aubel, Oliver, Beyer, Armand, Hennesthal, Christian, Hauschildt, Meike, Talut, Georg, Poppe, Jens, Vogel, Norman, Engelmann, Hans-Jurgen, Stauffer, Douglas, Major, Ryan
Publikováno v:
2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS); 2013, p2F.1-2F.1-2F.1.5, 0p
Autor:
Mühle, Uwe
Die außerordentlichen Steigerungen der Funktionalität und Produktivität in der Halbleiterindustrie sind zum wesentlichen Teil auf eine Verkleinerung der Strukturdetails auf einer logarithmischen Skala über die letzten Jahrzehnte zurückzuführen.
Externí odkaz:
https://tubaf.qucosa.de/id/qucosa%3A22965
https://tubaf.qucosa.de/api/qucosa%3A22965/attachment/ATT-0/
https://tubaf.qucosa.de/api/qucosa%3A22965/attachment/ATT-0/