Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Muchaidze, Giorgi"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Muchaidze, Giorgi 1976, Wei, Huang, Huang Wei, Min, Jin, Peng, Shao, Shao Peng, Drewniak, James L., Pommerenke, David
Near-field scanning systems are a tool for rootcause ESD, EMI, and immunity analysis of electronic systems, as well as qualification methodology for ICs and modules. For emissions, they have developed into a standardized method. Development of univer
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2659::af864d0fd0985014d7f62a0111224a73
https://zenodo.org/record/1268048
https://zenodo.org/record/1268048
Autor:
Muchaidze, Giorgi1 giorgi@amberpi.com, Koo, Jayong2 jkhy6@mst.edu, Cai, Qing2 qcync@mst.edu, Li, Tun2 tl5vf@mst.edu, Han, Lijun3 lhhtd@mst.edu, Martwick, Andrew4 andy.martwick@intel.com, Wang, Kai4 kai.a.wang@intel.com, Min, Jin1 jinmin@amberpi.com, Drewniak, James L.2 drewniak@mst.edu, Pommerenke, David2
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. May2008, Vol. 50 Issue 2, p268-276. 9p. 10 Black and White Photographs, 14 Diagrams, 1 Chart, 10 Graphs.
Publikováno v:
2007 18th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility; 2007, p83-86, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility; Aug2007, Vol. 49 Issue 3, p504-511, 8p, 8 Diagrams, 8 Graphs
Autor:
Marathe, Shubhankar, Soerensen, Morten, Khilkevich, Victor, Pommerenke, David, Min, Jin, Muchaidze, Giorgi
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility; Apr2019, Vol. 61 Issue 2, p599-599, 1p