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Autor:
Flores Salazar M; Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada, Universidad Nacional Autónoma de México, A.P. 1-1010, Querétaro, Qro., C.P. 76000, Mexico., Frausto-Avila CM; Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada, Universidad Nacional Autónoma de México, A.P. 1-1010, Querétaro, Qro., C.P. 76000, Mexico., de Jesús Bautista JA; Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada, Universidad Nacional Autónoma de México, A.P. 1-1010, Querétaro, Qro., C.P. 76000, Mexico., Polumati G; Department of Electrical and Electronics Engineering, BITS Pilani Hyderabad Campus, Hyderabad 500078, India., Muñiz Martínez BA; Cinvestav Unidad Queretaro, Qro., Queretaro 76230, Mexico., Sekhar Reddy KC; Department of Electrical and Electronics Engineering, BITS Pilani Hyderabad Campus, Hyderabad 500078, India., Hernández-Vázquez MÁ; Centro de Investigación, Innovación y Desarrollo Tecnológico (CIIDETEC-UVM), Universidad del Valle de México, Querétaro 76230, Mexico., Strupiechonski E; Centro de Ingeniería y Desarrollo Industrial, Avenida Pie de la Cuesta #702, Santiago de Querétaro, 76125 Querétaro, Mexico., Sahatiya P; Department of Electrical and Electronics Engineering, BITS Pilani Hyderabad Campus, Hyderabad 500078, India., Quiroz-Juárez MA; Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada, Universidad Nacional Autónoma de México, A.P. 1-1010, Querétaro, Qro., C.P. 76000, Mexico., De Luna Bugallo A; Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada, Universidad Nacional Autónoma de México, A.P. 1-1010, Querétaro, Qro., C.P. 76000, Mexico.
Publikováno v:
Nanotechnology [Nanotechnology] 2024 Oct 04; Vol. 35 (50). Date of Electronic Publication: 2024 Oct 04.
Autor:
Rocha Robledo AK; Cinvestav Unidad Querétaro, Querétaro, México., Flores Salazar M; Departamento de Nanotecnología, Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada, Universidad Nacional Autónoma de México, Querétaro, México., Muñiz Martínez BA; Cinvestav Unidad Querétaro, Querétaro, México., Torres-Rosales ÁA; Instituto de Investigación en Comunicación Óptica Universidad Autónoma de San Luis Potosí San Luis Potosí, San Luis, S.L.P. México., Lara-Alfaro HF; Instituto de Investigación en Comunicación Óptica Universidad Autónoma de San Luis Potosí San Luis Potosí, San Luis, S.L.P. México., Del Pozo-Zamudio O; Instituto de Investigación en Comunicación Óptica Universidad Autónoma de San Luis Potosí San Luis Potosí, San Luis, S.L.P. México., Cerda-Méndez EA; Instituto de Investigación en Comunicación Óptica Universidad Autónoma de San Luis Potosí San Luis Potosí, San Luis, S.L.P. México., Jiménez-Sandoval S; Cinvestav Unidad Querétaro, Querétaro, México., De Luna Bugallo A; Departamento de Nanotecnología, Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada, Universidad Nacional Autónoma de México, Querétaro, México.
Publikováno v:
PloS one [PLoS One] 2023 Jul 25; Vol. 18 (7), pp. e0283834. Date of Electronic Publication: 2023 Jul 25 (Print Publication: 2023).
Autor:
Hirpara, Anilkumar B., Chaki, Sunil H., Khimani, Ankurkumar J., Kannaujiya, Rohitkumar M., Deshpande, M. P.
Publikováno v:
Journal of Materials Science: Materials in Electronics; Sep2022, Vol. 33 Issue 25, p20303-20316, 14p