Zobrazeno 1 - 10
of 57
pro vyhledávání: '"Moyer, Patrick"'
Publikováno v:
In Acta Biomaterialia 1 April 2018 70:270-280
Publikováno v:
In Procedia Chemistry 2012 7:444-455
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2014, Vol. 115 Issue 3, p1-7, 7p, 4 Graphs
Autor:
Borgonjen, E.G., Moers, M.H.P., Ruiter, A.G.T., van Hulst, N.F., Paesler, Michael A., Moyer, Patrick J.
Publikováno v:
Near-Field Optics: SPIE's 1995 International Conference on Optical Science, Engineering, and Instrumentation, 9-14 July 1995, 125-131
STARTPAGE=125;ENDPAGE=131;TITLE=Near-Field Optics
STARTPAGE=125;ENDPAGE=131;TITLE=Near-Field Optics
A 'stand-alone' Photon Scanning Tunneling Microscope combined with an Atomic force Microscope, using a micro-fabricated silicon-nitride probe, is applied to the imaging of field distribution in integrated optical ridge waveguides. The electric field
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::f950432c717c4d60db6510f04cd745de
https://research.utwente.nl/en/publications/probing-field-distributions-on-waveguide-structures-with-an-atomic-forcephoton-scanning-tunneling-microscope(db1ebf81-817f-4951-8994-62cd2756f32f).html
https://research.utwente.nl/en/publications/probing-field-distributions-on-waveguide-structures-with-an-atomic-forcephoton-scanning-tunneling-microscope(db1ebf81-817f-4951-8994-62cd2756f32f).html
Autor:
Jalocha, Alain, Moers, Marco H.P., van Hulst, Niek F., Paesler, Michael A., Moyer, Patrick J.
Publikováno v:
Near-Field Optics: SPIE's 1995 International Conference on Optical Science, Engineering, and Instrumentation, 9-14 July 1995, 38-45
STARTPAGE=38;ENDPAGE=45;TITLE=Near-Field Optics
STARTPAGE=38;ENDPAGE=45;TITLE=Near-Field Optics
A Fluorescence Scanning Near-Field Optical Microscope operated in reflection is presented. A pulled optical fiber is used both as an emitter for the exciting light and a collector for the generated fluorescence. The advantage of this set-up is the us
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::16099f9b18fe07f4e0913c6317d07e3e
https://research.utwente.nl/en/publications/fluorescence-scanning-nearfield-optical-microscopy-in-reflection(f6ec41b5-0091-4559-ab71-9cf328981ad1).html
https://research.utwente.nl/en/publications/fluorescence-scanning-nearfield-optical-microscopy-in-reflection(f6ec41b5-0091-4559-ab71-9cf328981ad1).html
Autor:
Moers, M.H.P., Ruiter, A.G.T., Jalocha, A., van Hulst, N.F., Kalle, W.H.J., Wiegant, J.C.A.G., Raap, A.K., Paesler, Michael A., Moyer, Patrick J.
Publikováno v:
Near-Field Optics: SPIE's 1995 International Conference on Optical Science, Engineering, and Instrumentation, 9-14 July 1995, 94-99
STARTPAGE=94;ENDPAGE=99;TITLE=Near-Field Optics
STARTPAGE=94;ENDPAGE=99;TITLE=Near-Field Optics
Near-field Scanning Optical Microscopy (NSOM) is a true optical microscopic technique allowing fluorescence, absorption, reflection and polarization contrast with the additional advantage of nanometer lateral resolution, unlimited by diffraction and
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::9f58bda360d41855c49e3305cbdf4af7
https://research.utwente.nl/en/publications/biological-applications-of-nearfield-scanning-optical-microscopy(ad93bbe1-bdb1-4165-806f-656bca766d24).html
https://research.utwente.nl/en/publications/biological-applications-of-nearfield-scanning-optical-microscopy(ad93bbe1-bdb1-4165-806f-656bca766d24).html
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.