Zobrazeno 1 - 10
of 110
pro vyhledávání: '"Mourgues, K."'
Publikováno v:
In Microelectronics Journal February 2007 38(2):164-170
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B December 2006 253(1-2):250-254
Autor:
Gares, M., Maanane, H., Masmoudi, M., Bertram, P., Marcon, J., Belaid, M.A., Mourgues, K., Tolant, C., Eudeline, P.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2006 46(9):1806-1811
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(9):1732-1737
Publikováno v:
In Thin Solid Films 15 February 2001 383(1-2):303-306
Autor:
Helen, Y. *, Dassow, R., Nerding, M., Mourgues, K., Raoult, F., Köhler, J.R., Mohammed-Brahim, T., Rogel, R., Bonnaud, O., Werner, J.H., Strunk, H.P.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 15 February 2001 383(1-2):143-146
Autor:
Toutah, H., Tala-Ighil, B., Llibre, J.F., Rahal, A., Mourgues, K., Helen, Y., Mohammed-Brahim, T. *, Dassow, R., Köhler, J.R.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 15 February 2001 383(1-2):299-302
Autor:
Toutah, H., Llibre, J.F., Tala-Ighil, B., Mohammed-Brahim, T., Mourgues, K., Helen, Y., Raoult, F., Bonnaud, O.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-October 2000 40(8-10):1573-1577
Autor:
Helen, Y *, Mourgues, K, Raoult, F, Mohammed-Brahim, T, Bonnaud, O, Rogel, R, Prochasson, S, Boher, P, Zahorski, D
Publikováno v:
In Thin Solid Films 1999 337(1):133-136
Autor:
Tala-Ighil, B., Rahal, A., Mourgues, K., Toutah, A., Pichon, L., Mohammed-Brahim, T. *, Raoult, F., Bonnaud, O.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 1999 337(1):101-104