Zobrazeno 1 - 10
of 39
pro vyhledávání: '"Mori, Shigetaka"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
ESKES, Henk, FUJINAWA, Tamaki, KUZE, Akihiko, SUTO, Hiroshi, SHIOMI, Kei, KANAYA, Yugo, KAWASHIMA, Takahiro, KATAOKA, Fumie, MORI, Shigetaka, TANIMOTO, Hiroshi
Publikováno v:
Geophysical Research Letters. 48(14):1-10
形態: カラー図版あり
Physical characteristics: Original contains color illustrations
Accepted: 2021-05-15
資料番号: PA2210050000
Physical characteristics: Original contains color illustrations
Accepted: 2021-05-15
資料番号: PA2210050000
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::f259f39dd8532aa830743f7c89c464c3
http://id.nii.ac.jp/1696/00049012/
http://id.nii.ac.jp/1696/00049012/
Autor:
KUZE, Akihiko, SUTO, Hiroshi, KOSAKI, Seiya, SHIOMI, Kei, MATSUMOTO, Ayako, TUBAKIHARA, Yasuhiro, KATAOKA, Fumie, KAKU, Tetsuya, MORI, Shigetaka
会議情報：日本地球惑星科学連合2021年大会（2021年5月30日～6月6日. オンライン会議）
Meeting Information: Japan Geoscience Union Meeting 2021(May 30-June 6, 2021. Online meeting)
資料番号: AC2200012000
Meeting Information: Japan Geoscience Union Meeting 2021(May 30-June 6, 2021. Online meeting)
資料番号: AC2200012000
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::19728933178819cc1ef7fd3a8d6e2d99
http://id.nii.ac.jp/1696/00049565/
http://id.nii.ac.jp/1696/00049565/
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Fujinawa, Tamaki, Kuze, Akihiko, Suto, Hiroshi, Shiomi, Kei, Kanaya, Yugo, Kawashima, Takahiro, Kataoka, Fumie, Mori, Shigetaka, Eskes, Henk, Tanimoto, Hiroshi
Publikováno v:
Geophysical Research Letters; 7/28/2021, Vol. 48 Issue 14, p1-10, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mori, Shigetaka, Sawada, Ken, Tomita, Manabu, Ogawa, Kazuhisa, Suzuki, Tsuyoshi, Oishi, Hidetoshi, Bairo, Masaaki, Fukuzaki, Yuzo, Ohnuma, Hidetoshi
Publikováno v:
2016 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS); 2016, p106-109, 4p
Autor:
Suzuki, Tsuyoshi, Mori, Shigetaka, Oishi, Hidetoshi, Bairo, Masaaki, Tomita, Manabu, Ogawa, Kazuhisa, Fukuzaki, Yuzo, Ohnuma, Hidetoshi
Publikováno v:
2016 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS); 2016, p58-61, 4p
Autor:
Sawada, Ken, Van der Plas, Geert, Mori, Shigetaka, Vladimir, Cherman, Mercha, Abdelkarim, Diederik, Verkest, Fukuzaki, Yuzo, Ammo, Hiroaki
Publikováno v:
Proceedings of the 2015 International Conference on Microelectronic Test Structures; 2015, p145-149, 5p
Autor:
Mori, Shigetaka, Ogawa, Kazuhisa, Oishi, Hidetoshi, Suzuki, Tsuyoshi, Tomita, Manabu, Bairo, Masaaki, Fukuzaki, Yuzo, Ohnuma, Hidetoshi
Publikováno v:
Proceedings of the 2015 International Conference on Microelectronic Test Structures; 2015, p132-137, 6p