Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Moon J. Chung"'
Publikováno v:
ASP-DAC
We present a novel approach for built-in self test (BIST) for VLSI. Many conventional BIST schemes use signatures generated by a linear feedback shift register (LFSR) or a multiple input signature register (MISR) for determining whether the device un
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c0efa3c7bb9517941563487300ad3f09
https://doi.org/10.1109/aspdac.1995.486226
https://doi.org/10.1109/aspdac.1995.486226
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.