Knihovna AV ČR, v. v. i.
  • Odhlásit
  • Přihlášení
  • Jazyk
    • English
    • Čeština
  • Instituce
    • Knihovna AV ČR
    • Souborný katalog AV ČR
    • Archeologický ústav Brno
    • Archeologický ústav Praha
    • Astronomický ústav
    • Biofyzikální ústav
    • Botanický ústav
    • Etnologický ústav
    • Filosofický ústav
    • Fyzikální ústav
    • Fyziologický ústav
    • Geofyzikální ústav
    • Geologický ústav
    • Historický ústav
    • Masarykův ústav
    • Matematický ústav
    • Orientální ústav
    • Psychologický ústav
    • Slovanský ústav
    • Sociologický ústav
    • Ústav analytické chemie
    • Ústav anorganické chemie
    • Ústav pro českou literaturu
    • Ústav dějin umění
    • Ústav fyziky atmosféry
    • Ústav fotoniky a elektroniky
    • Ústav fyzikální chemie J. H.
    • Ústav fyziky materiálů
    • Ústav geoniky
    • Ústav pro hydrodynamiku
    • Ústav chemických procesů
    • Ústav informatiky
    • Ústav pro jazyk český
    • Ústav jaderné fyziky
    • Ústav makromolekulární chemie
    • Ústav pro soudobé dějiny
    • Ústav přístrojové techniky
    • Ústav státu a práva
    • Ústav struktury a mechaniky hornin
    • Ústav teoretické a aplikované mechaniky
    • Ústav teorie informace a automatizace
    • Ústav výzkumu globální změny
Pokročilé vyhledávání
  • Domovská stránka
  • Vyhledávání: "Moon, D.W"
  • Navrhnout nákup titulu
Zobrazeno 1 - 10 of 336 pro vyhledávání: '"Moon, D.W"'
1
Akademický článek
Implanted bone marrow-derived mesenchymal stem cells fail to metabolically stabilize or recover electromechanical function in infarcted hearts
Autor: Eun, L.Y., Song, H., Choi, E., Lee, T.G., Moon, D.W., Hwang, D., Byun, K.H., Sul, J.H., Hwang, K.C.
Publikováno v: In Tissue and Cell 2011 43(4):238-245
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Evaluation of BN-delta-doped multilayer reference materials for shallow depth profiling in SIMS: round-robin test
Autor: Toujou, F., Yoshikawa, S., Homma, Y., Takano, A., Takenaka, H., Tomita, M., Li, Z., Hasegawa, T., Sasakawa, K., Schuhmacher, M., Merkulov, A., Kim, H.K., Moon, D.W., Hong, T., Won, J.-Y.
Publikováno v: In Applied Surface Science 2004 231:649-652
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Interface strain profiling in ultrathin SiO 2 gate oxides with medium energy ion scattering spectroscopy
Autor: Moon, D.W., Lee, H.I.
Publikováno v: In Current Applied Physics 2003 3(1):45-49
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Quantitative depth profiling of nitrogen in ultrathin oxynitride film with low energy SIMS
Autor: Shon, H.K., Kang, H.J., Hong, T.E., Chang, H.S., Kim, K.J., Kim, H.K., Moon, D.W.
Publikováno v: In Applied Surface Science 2003 203:423-426
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Multiple As delta layered Si thin films for SIMS quantification and depth scale calibration
Autor: Cho, S.B, Shon, H.K, Kang, H.J, Hong, T.E, Kim, H.K, Lee, H.I, Kim, K.J, Moon, D.W
Publikováno v: In Applied Surface Science 2003 203:302-305
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
The dose dependence of Si sputtering with low energy ions in shallow depth profiling
Autor: Moon, D.W., Lee, H.I.
Publikováno v: In Applied Surface Science 2003 203:27-29
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
In-depth concentration distribution of Ar in Si surface after low-energy Ar + ion sputtering
Autor: Oh, D.W., Oh, S.K., Kang, H.J., Lee, H.I., Moon, D.W.
Publikováno v: In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 2002 190(1):598-601
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Estimation of the electronic straggling using delta-doped multilayers
Autor: Moon, D.W., Lee, H.I., Kim, K.J., Nishimura, T., Kido, Y.
Publikováno v: In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 2001 183(1):10-15
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Original and sputtering induced interface roughness in AES sputter depth profiling of SiO2/Ta2O5 multilayers
Autor: Rar, A *, Kojima, I, Moon, D.W, Hofmann, S
Publikováno v: In Thin Solid Films 1 November 1999 355-356:390-394
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Dynamic Monte Carlo simulation for SIMS depth profiling of delta-doped layer
Autor: Kang, H.J. *, Kim, W.S., Moon, D.W., Lee, H.Y., Kang, S.T., Shimizu, R.
Publikováno v: In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 1999 153(1):429-435
Zobrazit plný text záznamu
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 6
  • 7
  • 8
  • 9
  • 10
  • 11
  • Další »
  • [34]

Vyhledávací nástroje:

  • RSS
  • Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje
Pouze tištěné dokumenty
Zahrnout EIZ
  • 294 Akademické články
  • 54 Konferenční materiály
  • 9 Časopisy
  • 3 Knihy
  • 1 Recenze
  • 23 tof-sims
  • 14 meis
  • 14 silicon
  • 12 sims
  • 8 secondary ion mass spectrometry
  • 7 quantification
  • 6 imaging
  • 6 pca
  • 5 si
  • 5 thin films
  • 4 mass spectrometry
  • 4 microstructure
  • 4 physics
  • 4 reference material
  • 4 xps
  • 3 calibration
  • 3 depth profiling
  • 3 ellipsometry
  • 3 friction stir welding
  • 3 mechanical properties
  • 3 myocardial infarction
  • 3 nanocrystals
  • 3 nanostructures
  • 3 principal component analysis
  • 3 spectrum analysis
  • 3 sputtering (physics)
  • 3 sputtering yield
  • 2 aluminum compounds
  • 2 alzheimer's disease
  • 2 amorphous substances
  • 2 annealing of crystals
  • 2 annealing of metals
  • 2 arsenic
  • 2 as doping
  • 2 atherosclerosis
  • 2 aunp
  • 2 cardiac remodeling
  • 2 colon
  • 2 dendrimer
  • 2 depth profile
  • 2 depth resolution
  • 2 dielectrics
  • 2 diffusion
  • 2 disulfide
  • 2 fatigue crack growth
  • 2 fe-ni alloy
  • 2 ft-ir
  • 2 gallium
  • 2 germanium
  • 2 hafnium compounds
  • 41 elsevier b.v.
  • 23 elsevier
  • 18 american institute of physics inc.
  • 12 american institute of physics
  • 6 materials research society
  • 4 american chemical society
  • 4 elsevier ltd
  • 4 john wiley and sons ltd
  • 3 royal society of chemistry
  • 2 asm
  • 2 biophysical society
  • 2 elsevier science publishers b.v.
  • 2 elsevier sequoia sa
  • 2 institute of electrical and electronics engineers inc.
  • 2 john wiley & sons ltd
  • 2 mrs
  • 2 nature publishing group
  • 2 taylor and francis ltd.
  • 1 american inst of physics
  • 1 american physical society
  • 1 american welding soc
  • 1 apca
  • 1 asm (mater/metalwork technol ser)
  • 1 astm international
  • 1 aws
  • 1 blackwell munksgaard
  • 1 cell press
  • 1 cold spring harbor laboratory press
  • 1 electrochemical soc inc
  • 1 elsevier ireland ltd
  • 1 humana press inc.
  • 1 ieee nucl and plasma sci soc
  • 1 ifs (publ) ltd
  • 1 inderscience publishers
  • 1 japan society of applied physics
  • 1 john wiley and sons inc
  • 1 korean chemical society
  • 1 korean physical society
  • 1 korean society for microbiolog and biotechnology
  • 1 laser inst of america
  • 1 mdpi ag
  • 1 metall soc of aime
  • 1 metallurgical soc of aime
  • 1 national academy of sciences
  • 1 nature research
  • 1 optica publishing group (formerly osa)
  • 1 optical society of america (osa)
  • 1 pharmaceutical society of korea
  • 1 trans tech publications ltd
  • 1 wiley blackwell
  • 43 applied physics letters
  • 29 applied surface science
  • 25 surface and interface analysis
  • 15 surface science
  • 13 journal of vacuum science and technology a: vacuum, surfaces and films
  • 10 materials research society symposium - proceedings
  • 9 nuclear inst. and methods in physics research, b
  • 9 thin solid films
  • 8 materials science and engineering
  • 6 analytical chemistry
  • 6 journal of the korean physical society
  • 6 nuclear instruments and methods in physics research, section b: beam interactions with materials and atoms
  • 6 physical review letters
  • 6 scripta metallurgica
  • 5 current applied physics
  • 5 electrochemical and solid-state letters
  • 5 science and technology of welding and joining
  • 4 asm proceedings of the international conference: trends in welding research
  • 4 radiation effects and defects in solids
  • 4 tms annual meeting
  • 4 welding journal (miami, fla)
  • 3 acs applied materials and interfaces
  • 3 banking law journal
  • 3 journal of applied physics
  • 3 journal of the electrochemical society
  • 3 journal of vacuum science and technology b: microelectronics and nanometer structures
  • 3 physical review b - condensed matter and materials physics
  • 3 surface science letters
  • 2 acta metallurgica
  • 2 atherosclerosis
  • 2 biointerphases
  • 2 biophysical journal
  • 2 bulletin of the korean chemical society
  • 2 ieee transactions on plasma science
  • 2 international journal of mass spectrometry and ion physics
  • 2 journal of nanoscience and nanotechnology
  • 2 journal of the american chemical society
  • 2 materials science forum
  • 2 metrologia
  • 2 optics express
  • 2 review of scientific instruments
  • 2 rsc advances
  • 2 tissue and cell
  • 1 2007 nsti nanotechnology conference and trade show - nsti nanotech 2007, technical proceedings
  • 1 acta biomaterialia
  • 1 materials science & engineering b
  • 1 nuclear instruments & methods in physics research section b
  • 1 nuclear instruments and methods in physics research section b
  • 1 tissue & cell
  • 1 welding for challenging environments
  • 270 Scopus®
  • 35 ScienceDirect
  • 13 Academic Search Ultimate
  • 10 Supplemental Index
  • 6 Complementary Index
  • 2 OpenAIRE

Možnosti vyhledávání

  • Tematická mapa
  • Historie vyhledávání
  • Pokročilé vyhledávání

Objevte více

  • Abecední procházení

Hledáte pomoc?

  • Tipy pro vyhledávání
načítá se......