Zobrazeno 1 - 10
of 2 328
pro vyhledávání: '"Monti, D"'
Autor:
Corti, M., Rinaldi, F., Monti, D., Ferrandi, E.E., Marrubini, G., Temporini, C., Tripodo, G., Kupfer, T., Conti, P., Terreni, M., Massolini, G., Calleri, E.
Publikováno v:
In Journal of Pharmaceutical and Biomedical Analysis 30 May 2019 169:260-268
Autor:
Trivellin, N., Monti, D., De Santi, C., Buffolo, M., Meneghesso, G., Zanoni, E., Meneghini, M.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:868-872
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:864-867
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:584-587
Autor:
Magna, G, Šakarašvili, M, Stefanelli, M, Giancane, G, Bettini, S, Valli, L, Ustrnul, L, Borovkov, V, Aav, R, Monti, D, Di Natale, C, Paolesse, R
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3667::7e48febcc0911f96a1f02979eed16a2a
https://hdl.handle.net/2108/329863
https://hdl.handle.net/2108/329863
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
De Santi, C., Dal Lago, M., Buffolo, M., Monti, D., Meneghini, M., Meneghesso, G., Zanoni, E.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-September 2015 55(9-10):1765-1769
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.