Zobrazeno 1 - 10
of 215
pro vyhledávání: '"Monsieur, À"'
Autor:
Goedegebuure, Abel, Kumara, Indika, Driessen, Stefan, Di Nucci, Dario, Monsieur, Geert, Heuvel, Willem-jan van den, Tamburri, Damian Andrew
Data mesh is an emerging domain-driven decentralized data architecture that aims to minimize or avoid operational bottlenecks associated with centralized, monolithic data architectures in enterprises. The topic has picked the practitioners' interest,
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2304.01062
Autor:
Driessen, Stefan, Di Nucci, Dario, Monsieur, Geert, Tamburri, Damian A., Heuvel, Willem-Jan van den
Blockchain and smart contract technology are novel approaches to data and code management that facilitate trusted computing by allowing for development in a distributed and decentralized manner. Testing smart contracts comes with its own set of chall
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2102.08864
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bordignon, Thomas, Duriez, Blandine, Guitard, Nicolas, Duru, Romain, Pribat, Clément, Richy, Jérôme, Reboh, Shay, Dhar, Siddhartha, Monsieur, Frédéric, Fache, Thibaud, Chalupa, Zdenek, Hartmann, Jean-Michel, Chevalier, Pascal, Roelens, Yannick, Danneville, François, Crémer, Sébastien
Publikováno v:
In Solid State Electronics December 2023 210
Autor:
Julliard, P.L., Johnsson, A., Zographos, N., Demoulin, R., Monflier, R., Jay, A., Er-Riyahi, O., Monsieur, F., Joblot, S., Deprat, F., Rideau, D., Pichler, P., Hémeryck, A., Cristiano, F.
Publikováno v:
In Solid State Electronics February 2023 200
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of the Seminar for Arabian Studies, 2019 Jan 01. 49, 241-246.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/27014153
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:227-232
Autor:
Vancampfort, Davy, Mugisha, James, Hallgren, Mats, De Hert, Marc, Probst, Michel, Monsieur, Dirk, Stubbs, Brendon
Publikováno v:
In Psychiatry Research 30 December 2016 246:394-400
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August 2016 63:90-96