Zobrazeno 1 - 10
of 50
pro vyhledávání: '"Mongeon, S."'
Autor:
Gambino, J., Wynne, J., Gill, J., Mongeon, S., Meatyard, D., Lee, B., Bamnolker, H., Hall, L., Li, N., Hernandez, M., Little, P., Hamed, M., Ivanov, I., Gan, C.L.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(11):2059-2067
Autor:
Chen, F., Shinosky, M., Li, B., Gambino, J., Mongeon, S., Pokrinchak, P., Aitken, J., Badami, D., Angyal, M., Achanta, R., Bonilla, G., Yang, G., Liu, P., Li, K., Sudijono, J., Tan, Y., Tang, T.J., Child, C.
Publikováno v:
2009 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2009, p464-475, 12p
Autor:
Gambino, J., Fen Chen, Mongeon, S., Meatyard, D., Lee, T., Lee, B., Bamnolker, H., Hall, L., Li, N., Hernandez, M., Little, P., Hamed, M., Ivanov, I.
Publikováno v:
2007 14th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits; 2007, p59-64, 6p
Autor:
Gambino, J., Leidy, B., Adkisson, J., Jaffe, M., Rassel, R.J., Wynne, J., Ellis-Monaghan, J., Hoague, T., Meatyard, D., Mongeon, S., Kryzak, T.
Publikováno v:
2006 International Electron Devices Meeting; 2006, p1-4, 4p
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2005, Vol. 863 Issue 1, p1-6, 6p
Autor:
Gambino, J., Johnson, C., Therrien, J., Hunt, D., Wynne, J., Smith, S., Mongeon, S., Pokrinchak, P., Levin, T.M.
Publikováno v:
Proceedings of the 12th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits, 2005 (IPFA 2005); 2005, p92-95, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hook, T., Chen, B., Starkey, G., Bhattacharyya, A., Faucher, M., Racine, C., Willets, C., Eslinger, S., Kulkarni, S., King, W., Washburn, C., Piccirillo, J., Mongeon, S., Johnson, A., Gabrielle, E.
Publikováno v:
Proceedings IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference & Workshop; 1993, p152-155, 4p