Zobrazeno 1 - 10
of 139
pro vyhledávání: '"Moise, T."'
Autor:
Gilbert, S. R., Hunter, S., Ritchey, D., Chi, C., Taylor, D. V., Amano, J., Aggarwal, S., Moise, T. S., Sakoda, T., Summerfelt, S. R., Singh, K. K., Kazemi, C., Carl, D., Bierman, B.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2/1/2003, Vol. 93 Issue 3, p1713, 5p, 1 Black and White Photograph, 5 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 11/15/1995, Vol. 78 Issue 10, p6305, 13p, 2 Diagrams, 1 Chart, 20 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 10/1/1993, Vol. 74 Issue 7, p4681, 4p, 5 Graphs
Autor:
Cartwright, A. N., McCallum, D. S., Boggess, Thomas F., Smirl, Arthur L., Moise, T. S., Guido, L. J., Barker, R. C., Wherrett, B. S.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 6/1/1993, Vol. 73 Issue 11, p7767, 8p, 2 Diagrams, 9 Graphs
Autor:
Rodriguez, J. A., Zhou, C., Graf, T., Bailey, R., Wiegand, M., Wang, T., Ball, M., Wen, H. C., Udayakumar, K. R., Summerfelt, S., San, T., Moise, T.
Publikováno v:
2016 IEEE 8th International Memory Workshop (IMW); 2016, p1-4, 4p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Udayakumar, K. R., San, T., Rodriguez, J., Chevacharoenkul, S., Frystak, D., Rodriguez-Latorre, J., Zhou, C., Ball, M., Ndai, P., Madan, S., McAdams, H., Summerfelt, S., Moise, T.
Publikováno v:
2013 5th IEEE International Memory Workshop; 2013, p128-131, 4p
Autor:
Rodriguez, J., Remack, K., Gertas, J., Wang, L., Zhou, C., Boku, K., Rodriguez-Latorre, J., Udayakumar, K.R., Summerfelt, S., Moise, T., Kim, D., Groat, J., Eliason, J., Depner, M., Chu, F.
Publikováno v:
2010 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS); 2010, p750-758, 9p
Autor:
Acosta, A.G., Rodriguez, J., Obradovic, B., Summerfelt, S., San, T., Green, K., Moise, T., Krishnan, S.
Publikováno v:
2010 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS); 2010, p689-693, 5p
Autor:
Eliason, J., Madan, S., McAdams, H., Fox, G., Moise, T., Lin, C., Schwartz, K., Gallia, J., Jabillo, E., Kraus, B., Summerfelt, S.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2005 Custom Integrated Circuits Conference, 2005; 2005, p427-430, 4p