Zobrazeno 1 - 10
of 96
pro vyhledávání: '"Moinpour Mansour"'
Autor:
McLeod, Aaron J., Ueda, Scott T., Lee, Ping C., Spiegelman, Jeff, Kanjolia, Ravindra, Moinpour, Mansour, Woodruff, Jacob, Kummel, Andrew C.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 1 March 2023 768
Autor:
Ueda, Scott T., McLeod, Aaron, Alvarez, Dan, Moser, Daniel, Kanjolia, Ravindra, Moinpour, Mansour, Woodruff, Jacob, Kummel, Andrew C.
Publikováno v:
In Applied Surface Science 15 July 2021 554
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Sun, Yiting, Negreira, Ainhoa Romo, Meersschaut, Johan, Hoflijk, Ilse, Vaesen, Inge, Conard, Thierry, Struyf, Herbert, Tokei, Zsolt, Boemmels, Juergen, Moinpour, Mansour, De Feyter, Steven, Armini, Silvia
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 5 January 2017 167:32-36
Autor:
Kuo, Cheng-Hsuan, Mcleod, Aaron J., Lee, Ping-Che, Huang, James, Kashyap, Harshil, Wang, Victor, Yun, SeongUK, Zhang, Zichen, Spiegelman, Jeffrey, Kanjolia, Ravindra, Moinpour, Mansour, Kummel, Andrew C.
Publikováno v:
ACS Applied Electronic Materials; 8/22/2023, Vol. 5 Issue 8, p4094-4102, 9p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Moinpour Mansour, Madison A. Smith, Ashwani K. Rawat, Colin T. Carver, Donald K. Schorr, Edward E. Remsen
Publikováno v:
ECS Transactions. 72:43-51
Fluorescence correlation spectroscopy (FCS) has been demonstrated as a versatile technique for the analysis of the smallest size fraction (diameter < 20 nm) of an abrasive silica particle dispersion and for small molecule adsorption on these particle