Zobrazeno 1 - 10
of 497
pro vyhledávání: '"Mitard, J."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yamaguchi, S., Witters, L., Mitard, J., Eneman, G., Hellings, G., Hikavyy, A., Loo, R., Horiguchi, N.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability April 2018 83:157-161
Autor:
Collaert, N., Alian, A., Arimura, H., Boccardi, G., Eneman, G., Franco, J., Ivanov, Ts., Lin, D., Loo, R., Merckling, C., Mitard, J., Pourghaderi, M.A., Rooyackers, R., Sioncke, S., Sun, J.W., Vandooren, A., Veloso, A., Verhulst, A., Waldron, N., Witters, L., Zhou, D., Barla, K., Thean, A.V.-Y.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 25 January 2015 132:218-225
Autor:
Witters, L., Eneman, G., Mitard, J., Vincent, B., Hikavyy, A., Milenin, A.P., Mertens, S., Thean, A., Collaert, N.
Publikováno v:
In Solid State Electronics August 2014 98:7-11
Autor:
Ma, J., Zhang, J.F., Ji, Z., Benbakhti, B., Duan, M., Zhang, W., Zheng, X.F., Mitard, J., Kaczer, B., Groeseneken, G., Hall, S., Robertson, J., Chalker, P.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering September 2013 109:43-45
Autor:
Franco, J., Kaczer, B., Toledano-Luque, M., Roussel, Ph.J., Cho, M., Kauerauf, T., Mitard, J., Eneman, G., Witters, L., Grasser, T., Groeseneken, G.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering September 2013 109:250-256
Publikováno v:
In Solid State Electronics July 2013 85:12-14
Autor:
Ritzenthaler, R., Schram, T., Bury, E., Spessot, A., Caillat, C., Srividya, V., Sebaai, F., Mitard, J., Ragnarsson, L.-Å., Groeseneken, G., Horiguchi, N., Fazan, P., Thean, A.
Publikováno v:
In Solid State Electronics June 2013 84:22-27
Autor:
Simoen, E., Mitard, J., Hellings, G., Eneman, G., De Jaeger, B., Witters, L., Vincent, B., Loo, R., Delabie, A., Sioncke, S., Caymax, M., Claeys, C.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing December 2012 15(6):588-600
Autor:
Franco, J., Kaczer, B., Toledano-Luque, M., Roussel, Ph. J., Hehenberger, P., Grasser, T., Mitard, J., Eneman, G., Witters, L., Hoffmann, T.Y., Groeseneken, G.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2011 88(7):1388-1391