Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Mirabello, M."'
Autor:
Collura, G., Gallo, S., Nici, S., Tranchina, L., Abbate, B., Caputo, V., Caracappa, .., Cassata, G., D’Errico, F., Mirabello, M., Quartararo, M., Veronese, I., Marrale, M.
Fricke Gel (FXGs) dosimetric system is based on the radiation induced oxidation of ferrous to ferric ions. The application of Fricke gels for ionizing radiation dosimetry is continuously increasing worldwide due to their many favorable properties. Ho
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::97a5405abf27bc6aa2ea513657f65601
http://hdl.handle.net/10447/204620
http://hdl.handle.net/10447/204620
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Manuele Bettelli, Giuseppe Raso, Fabio Principato, Matthew C. Veale, Gaetano Gerardi, Andrea Zappettini, Paul Seller, Marcello Mirabello, Antonino Buttacavoli, Donato Cascio, Leonardo Abbene
Publikováno v:
Sensors
Volume 21
Issue 11
Sensors (Basel, Switzerland)
Sensors, Vol 21, Iss 3669, p 3669 (2021)
Sensors (Basel) 21 (2021): 3669-1–3669-13. doi:10.3390/s21113669
info:cnr-pdr/source/autori:Buttacavoli A.; Gerardi G.; Principato F.; Mirabello M.; Cascio D.; Raso G.; Bettelli M.; Zappettini A.; Seller P.; Veale M.C.; Abbene L./titolo:Energy recovery of multiple charge sharing events in room temperature semiconductor pixel detectors/doi:10.3390%2Fs21113669/rivista:Sensors (Basel)/anno:2021/pagina_da:3669-1/pagina_a:3669-13/intervallo_pagine:3669-1–3669-13/volume:21
Volume 21
Issue 11
Sensors (Basel, Switzerland)
Sensors, Vol 21, Iss 3669, p 3669 (2021)
Sensors (Basel) 21 (2021): 3669-1–3669-13. doi:10.3390/s21113669
info:cnr-pdr/source/autori:Buttacavoli A.; Gerardi G.; Principato F.; Mirabello M.; Cascio D.; Raso G.; Bettelli M.; Zappettini A.; Seller P.; Veale M.C.; Abbene L./titolo:Energy recovery of multiple charge sharing events in room temperature semiconductor pixel detectors/doi:10.3390%2Fs21113669/rivista:Sensors (Basel)/anno:2021/pagina_da:3669-1/pagina_a:3669-13/intervallo_pagine:3669-1–3669-13/volume:21
Multiple coincidence events from charge-sharing and fluorescent cross-talk are typical drawbacks in room-temperature semiconductor pixel detectors. The mitigation of these distortions in the measured energy spectra, using charge-sharing discriminatio
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::3bd4fa7ac4ae76246c4770f90c377054
Autor:
Nicola Nicosia, O. Crepel, Vincenzo Cantarella, Salvatore D′Arrigo, Corrado Cappello, Fabio Principato, Francesco Pintacuda, Marcello Mirabello, Leonardo Abbene, Giuseppe Allegra, Alessandro Di Mauro
Publikováno v:
Sensors (Basel, Switzerland)
Sensors, Vol 21, Iss 5627, p 5627 (2021)
Sensors
Volume 21
Issue 16
Sensors, Vol 21, Iss 5627, p 5627 (2021)
Sensors
Volume 21
Issue 16
High temperature reverse-bias (HTRB), High temperature gate-bias (HTGB) tests and electrical DC characterization were performed on planar-SiC power MOSFETs which survived to accelerated neutron irradiation tests carried out at ChipIr-ISIS (Didcot, UK
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::9f0037fc5da6b876e4ac64c39109980e
https://doi.org/10.3390/s21165627
https://doi.org/10.3390/s21165627