Zobrazeno 1 - 2 of 2 pro vyhledávání: '"Miehael V. Swain"'
1
OS06W0390 Deformation modes of semi-conductors: Determined from nano-indentation and transmission electron microscopy
Autor: Jodie Bradby, James Williams, Miehael V. Swain, Paul Munroe
Publikováno v: The Abstracts of ATEM : International Conference on Advanced Technology in Experimental Mechanics : Asian Conference on Experimental Mechanics. :OS06W0390-OS06W0390
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7d3c2b30b454028094cd1d59ba18474b
https://doi.org/10.1299/jsmeatem.2003.2._os06w0390
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje