Zobrazeno 1 - 10
of 214 404
pro vyhledávání: '"Microscopy and microanalysis '
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
David C. Joy
This book describes for the first time how Monte Carlo modeling methods can be applied to electron microscopy and microanalysis. Computer programs for two basic types of Monte Carlo simulation are developed from physical models of the electron scatte